深紫外激光光致发光光谱仪:DUV-PL
Deep-ultraviolet Laser Photoluminescent Spectroscope

性能指标

●激发波长:177 nm    ●光谱分辨率:0.03 nm   ●光谱扫描范围:170 - 800 nm

●时间分辨率:12 ps   ●控温范围:10 - 350 K

主要应用

超宽禁带半导体材料物理性质表征

代表性应用成果

主要用户单位北京大学、厦门大学、南京大学、华中科技大学等
研制单位中国科学院半导体研究所
联系方式金鹏 010-82304563,13439428763 pengjin@semi.ac.cn