深紫外激光光致发光光谱仪:DUV-PL
Deep-ultraviolet Laser Photoluminescent Spectroscope
●激发波长:177 nm ●光谱分辨率:0.03 nm ●光谱扫描范围:170 - 800 nm
●时间分辨率:12 ps ●控温范围:10 - 350 K
主要应用超宽禁带半导体材料物理性质表征
代表性应用成果
主要用户单位 | 北京大学、厦门大学、南京大学、华中科技大学等 |
研制单位 | 中国科学院半导体研究所 |
联系方式 | 金鹏 010-82304563,13439428763 pengjin@semi.ac.cn |