深紫外激光光发射电子显微镜:DUV/VUV-DPL PEEM
DUV/VUV-DPL Photon Emission Electron Microscope

性能指标

●空间分辨率:7 nm          ●能量分辨率:< 0.2 eV

●激发光源:177.3 nm全固态激光器(DUV/VUV-DPL)

主要应用

用于物理、化学、材料学等

代表性应用成果

主要用户单位中国科学院大连化学物理研究所、北京中科科仪股份有限公司、中国科学院物理研究所、中国科学院电子学研究所、中国科学技术大学等
研制单位中国科学院理化技术研究所、北京中科科仪股份有限公司、中国科学院大连化学物理研究所
联系方式张申金 010-82543470,13488671978 zhangshenjin@163.com