场发射枪扫描电子显微镜:8000F/8100F

Field Emission Scanning Electron Microscope

中国科学院院刊, 2019, 34(Z1): 48-48

Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2019, 34(Z1): 48-48

引用本文

场发射枪扫描电子显微镜:8000F/8100F[J]. 中国科学院院刊, 2019, 34(Z1): 48-48

Field Emission Scanning Electron Microscope[J]. Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2019, 34(Z1): 48-48

场发射枪扫描电子显微镜:8000F/8100F

Field Emission Scanning Electron Microscope

性能指标

● 分辨率:1.0 nm@30kV, 3.0 nm@1kV ● 加速电压: 0—30 kV

● 放大倍数：15×—800000×

主要应用

材料科学、生命科学、先进制造、半导体制作工艺研究、环境保护、航空航天、先进能源、现代农业等

代表性应用成果