基于SEM的nano-CT系统:nanoCT-30
Nano-CT System Based on SEM

性能指标

● 名义最高:300 nm           ● 空间分辨率:500 nm         ● 成像速度:100 s/帧

● 加速电压:0.3 V—30 kV   ● 最大电子束束流:200 nA   ● 可更换4种靶材

主要应用

生命科学、多孔多相介质的材料三维无损显微检测

代表性应用成果

主要用户单位 中国工程物理研究院
研制单位 中国科学院电工研究所
联系方式 刘俊标 010-82547185,13693629614