超高真空扫描探针显微镜系统:UHV-LT-SPM-MBE、UHV-VT-SPM
UHV SPM System

主要技术与性能指标

超高真空低温扫描探针显微镜系统

●新型潘式扫描探头,具备qPlus AFM功能  ●多源MBE样品制备,可原位沉积

●分辨率:原子分辨率  ●最低工作温度:≤ 5 K

●低温维持时间:≥ 50 h(液氦容积4 L、液氮容积15 L)  ●可选光学通道,适于光学实验

超高真空变温扫描探针显微镜系统

●快速降温和升温  ●工作温度范围:8—290 K

●分辨率:原子分辨率  ●低温恒温器类型:持续流

●液氦消耗率:1.0 L/h   ●冷却时间:~ 2 h

主要应用

表面科学、超薄膜层、有机分子层、二维原子晶体、单原子磁性

代表性应用成果

该超高真空扫描探针显微镜系统的详细介绍发表在《科学仪器评论》杂志上(Wu Z B, Gao Z Y, Chen X Y, et al. A low-temperature scanning probe microscopy system with molecular beam epitaxy and optical access. Review of Scientific Instruments, 2018, 89: 113705.)

主要用户单位 清华大学、中山大学、中国科学院物理研究所、国家纳米科学中心、中国科学院大学
研制单位 中国科学院物理研究所
联系方式 陈小金  010-82648087,15900692260  cindy.chen@iphy.ac.cn