高精度电光晶体定向仪:CrysEO400-CI
High Precision Electro-optic Crystal Orientator
●锥光干涉条纹图分辨率:2 048×2 048 ● Z轴偏离角测量精度:优于0.200 mrad
●可测量的样品尺寸:≤ 400 mm×400 mm、厚度10—20 mm
主要应用广泛应用于电光晶体非接触定向和高精度切割制造等
代表性应用成果●发明专利
刘世杰, 鲁棋, 周游, 等.电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置和方法:中国, ZL201710917302.9. 2019-05-17.
●发表论文
Lu Qi, Wang Shenghao, Zhou You, et al. High-precision determination of the cut angle of an electro-optic crystal by conoscopic interference. Applied Optics, 2018, 57(24): 6886-6891.
基于锥光干涉测量原理,创新性提出了基于泰曼-格林干涉原理的高精度光路装调方法、重心连线拟合找中心法和四点拟合圆分析偏离角法等,解决了电光晶体Z轴切割误差不能被传统定向仪高精度且非接触测量等问题
主要用户单位 | 中国科学院强激光材料重点实验室、中国工程物理研究院、山东大学、中国科学院福建物质结构研究所等 |
研制单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
联系方式 | 刘世杰 021-59962310,13701930842 shijieliu@siom.ac.cn |