短相干激光干涉仪
Short Coherence Laser Interferometer

主要技术与性能指标

●最大测量口径:30 mm、60 mm、100 mm   ●平面面形精度PV:优于λ/20@633 nm

●可测最小平行平板厚度:0.2 mm

主要应用

平行平板光学元件面形检测

代表性应用成果

●手机摄像头窗口、背板检测

●蓝宝石玻璃基底检测

●分光平片检测

主要用户单位 中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院大连化学物理研究所、上海乾曜光电有限公司
研制单位 中国科学院空天信息创新研究院
联系方式 李杨  010-82178622,18710020052  liyang@aoe.ac.cn