基于SEM的nano-CT系统:NanoCT-30
Nano-CT System Based on SEM

主要技术与性能指标

●名义最高空间分辨率:200 nm   ●实测空间分辨率:500 nm   ●成像速度:100 s/帧

●加速电压:0.3 V—30 kV   ●最大电子束束流:200 nA   ●可更换4种靶材

主要应用

生命科学、材料科学中多孔、多相介质的材料三维无损显微检测

代表性应用成果

主要用户单位 中国工程物理研究院
研制单位 中国科学院电工研究所、北京中科科仪股份有限公司
联系方式 刘俊标  010-82547185,13693629614  liujb@mail.iee.ac.cn