深紫外激光光致发光光谱仪:DUV-PL
Deep-ultraviolet Laser Photoluminescent Spectroscope

主要技术与性能指标

●激发波长:177 nm   ●光谱分辨率:0.03 nm   ●光谱扫描范围:170—800 nm

●时间分辨率:12 ps   ●控温范围:10—350 K

主要应用

超宽禁带半导体材料物理性质表征

代表性应用成果

主要用户单位 北京大学、厦门大学、南京大学、华中科技大学等
研制单位 中国科学院半导体研究所
联系方式 金鹏  010-82304563,13439428763  pengjin@semi.ac.cn