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深紫外激光光发射电子显微镜:DUV-DPL PEEM
Deep Ultraviolet Diode-pumped Solid State Laser Photoemission Electron Microscope
中国科学院院刊, 2020, 35(Z1): 67-67
Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2020, 35(Z1): 67-67

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深紫外激光光发射电子显微镜:DUV-DPL PEEM. 中国科学院院刊, 2020, 35(Z1): 67-67
Deep Ultraviolet Diode-pumped Solid State Laser Photoemission Electron Microscope. Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2020, 35(Z1): 67-67
深紫外激光光发射电子显微镜:DUV-DPL PEEM
Deep Ultraviolet Diode-pumped Solid State Laser Photoemission Electron Microscope

主要技术与性能指标

● PEEM分辨率：≤ 10 nm   ● LEEM分辨率：≤ 5 nm   ●能量分辨率：≤ 0.2 eV

主要应用

表面分析科学中的表面磁学、表面催化、薄膜生长等

代表性应用成果

主要用户单位 中国科学院大连化学物理研究所、北京中科科仪股份有限公司、中国科学院电子学研究所、中国科学院物理研究所、中国科学技术大学
研制单位 中国科学院理化技术研究所、北京中科科仪股份有限公司、中国科学院大连化学物理研究所
联系方式 张申金  010-82543470，13488671978  zhangshenjin@163.com
孙占峰  010-82548109，13520785335  zhfsun@kyky.com.cn