TDTR薄膜导热测量仪:Femto-TDTR
Thermoreflectance Thin Film Thermal Conductance Measurement Apparatus
●可测参数:热导率,热扩散率,吸热系数,界面热阻 ●热导率测量范围:0.1—2 000 W m−1 K−1
●吸热系数测量范围:500—50 000 J m−2 K−1 s−0.5 ●热扩散率测量范围:0.05—1 000 mm2 s−1
●温度范围:室温(可扩展至−196℃—500℃) ●可测薄膜厚度:>10 nm
●光源参数:波长1 030 ± 10 nm,脉冲宽度<150 fs ●热扩散时间:1 ps—7.2 ns
主要应用热功能材料开发、微观导热机理研究、激光超快过程研究
代表性应用成果飞秒激光时域热反射技术是一种基于飞秒超快激光抽运探测技术的非接触式导热测量技术,是目前唯一一种可以测量纳米薄膜热导率和界面热阻的导热测量技术,主要应用于新材料研发及性能表征,探索微观能量输运机理等基础研究
主要用户单位 | 中国科学院化学研究所、中国科学院电工研究所、中国科学院深圳先进技术研究院、北京科技大学、大连理工大学、中国石油大学、新加坡国立大学、西北工业大学、上海交通大学 |
研制单位 | 中国科学院工程热物理研究所 |
联系方式 | 孙方远 010-82543092,15011316319 15011316319@163.com |