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深紫外激光光发射电子显微镜
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope (DUV-PEEM)
中国科学院院刊, 2021, 36(Z1): 65-65
Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2021, 36(Z1): 65-65

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深紫外激光光发射电子显微镜. 中国科学院院刊, 2021, 36(Z1): 65-65
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope (DUV-PEEM). Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2021, 36(Z1): 65-65
深紫外激光光发射电子显微镜
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope (DUV-PEEM)

主要技术与性能指标

● PEEM分辨率：≤ 10 nm    ● LEEM分辨率：≤ 5 nm    ●能量分辨率：≤ 0.2 eV

主要应用

表面分析科学中的表面磁学、表面催化、薄膜生长等

代表性应用成果

磁学研究、表面催化、薄膜生长