超高分辨率超声缺陷检测设备: SAM-UCAS
Ultra-high Resolution Ultrasonic Flaw Detection Equipment
● X、Y、Z轴有效行程:465 mm、330 mm、115 mm ● X/Y轴复位运动精度:0.5 μm
● Z轴步进运动精度:0.2 μm ● X/Y轴最大运动速度:≥ 200 ● X/Y轴最大加速:≥ 0.5 g
● AD转换速率:1 GHz ● AD转换精度:8 bit ● 脉冲能量:≥ 3.3 μJ
主要应用主要应用于高技术含量的先进制造业,通过对被检测产品全生命周期,包括设计、加工、制造及使用过程的无损检测与缺陷监控,提高产品合格率,降低意外风险。主要应用行业包括:集成电路制造、加工、测试、航空航天、复合材料制造、生物医药等
代表性应用成果使用SAM对中国科学院计算技术研究所DPU进行缺陷检测,下为DPU上表面图像,中为中间层(Die)图像,右为下表面(PBA焊点层)和内部结构三维重建的图像
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