高精度电光晶体定向仪: CrysEO400-CI
High Precision Electro-optic Crystal Orientator

主要技术与性能指标

● 锥光干涉条纹图分辨率:2 048×2 048    ● Z轴偏离角测量精度:优于0.200 mrad

● 可测量的样品尺寸:≤ 400 mm×400 mm、厚度10—20 mm

主要应用

广泛应用于电光晶体非接触定向和高精度切割制造等

代表性应用成果

基于锥光干涉测量原理,创新性提出了基于泰曼-格林干涉原理的高精度光路装调方法、重心连线拟合找中心法和四点拟合圆分析偏离角法等,解决了电光晶体Z轴切割误差不能被传统定向仪高精度且非接触测量等问题

● 发明专利

刘世杰, 鲁棋, 周游, 等. 电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置和方法: 中国, ZL201710917302.9. 2019-05-17.

● 论文

Lu Q, Wang S H, Zhou Y, et al. High-precision determination of the cut angle of an electro-optic crystal by conoscopic interference. Applied Optics, 2018, 57(24): 6886-6891.