万瓦级半导体激光器综合测试系统: 10 kW-L
Integrated Test System for 10 kW-level Semiconductor Laser

主要技术与性能指标

● 光谱测试范围:200—1 100 nm    ● 光谱测试精度:0.2 nm          ● 平均功率测试范围:100—10 000 W

● 最小显示分辨率:0.01 W              ● 功率重复性测试精度:0.6%   ● 发散角测试范围:1°—120°

● 发散角测试精度:4.5%                  ● 发散角分辨率:≤ 0.1°           ● 残余发散角测试范围:±2°

● 残余发散角测试分辨率:±0.000 7°

主要应用

主要用于万瓦级半导体激光器输出功率、光谱分布、激光合束前后的大发散角和残余发散角等基本物理参量的一体化精准测量