主要技术与性能指标

● 测量范围：连续/脉冲光、平行光、球面波、涡旋光等任意光场复振幅分布    ● 可多波长复振幅同时测量

● 波长范围：决定于探测器响应光谱        ● 工作模式：单次曝光/多次曝光      ● 可波前数值反演

● 相位分辨率：优于1/15λ@632.8 nm Ф100 mm        ● 空间分辨率：5 μm@632.8 nm，极限分辨率λ/2

主要应用

● 光场测量领域：光束质量分析、激光器热畸变测量、驱动器近远场强度相位测量、多波长光场同时测量

● 成像与光学测量：相位显微成像、大相位梯度及自由曲面等光学元件检测、应力形变测量、涡旋相位板测量、MTF测量

代表性应用成果