相对磁场方向测量磁力显微镜: Prb3D-MFMrotSs1C
Rotatable Magnetic Force Microscope Operated in High Field Magnet

主要技术与性能指标

●分辨率:MFM具备50 nm磁结构分辨,附带AFM功能可实现原子(台阶)分辨

●温度:设备适用于5—300 K(由适配磁体提供)

●采用压电旋转马达驱动  ●角度精度:≥0.01°

●适用孔径50 mm以上磁体,样品在磁场中进行0°—90°转角度测量

主要应用

功能材料、纳米科技,磁学,芯片、微纳器件,特别适用于磁各向异性材料的磁场调控研究