多模态嵌入式荧光导航聚焦 离子束减薄扫描电镜系统
Correlative Light-ion-electron Microscopy (CLIEM)

主要技术与性能指标

● 3D 高分辨成像   ● 大视野:FOV=145 μm × 145 μm   ●高数值孔径:NA = 0.9

● 3 通道多色成像   ●双模态成像:荧光成像 + 明场明场   ●高精度定点切割:切割精度 < 50 nm

●高成功率定点切割:成功率> 95%

主要应用

提供一站式冷冻生物样品荧光导航聚 焦离子束减薄的解决方案,利用荧光 信号精准引导聚焦离子束在细胞的特 定点位进行减薄,具有高精度、高通 量、高成功率的特点,有效降低样品 损坏、升温和冰污染风险,为原位冷 冻三维电子断层扫描成像( Cryo-ET) 的样品制备提供完整解决方案

代表性应用成果

成功应用在多种细胞器和超微结构的原位解析中,例如:细胞器互作位点等 具有不规则形状的目标,细胞中心体等稀有事件,以及应激颗粒的相分离等 电镜下不易观察的研究对象等。通过精准制备含有这些研究对象的冷冻超薄 切片,并利用 Cryo-ET 技术解析这些研究对象的原位结构,揭示了细胞器互 作 的 行 为,发 现 了 中 心 粒 内 部 环 装 新 结 构,产 出 了 一 系 列研究成果