http://dx.doi.org/10.16418/j.issn.1000-3045.2023Z104021
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闪烁体性能检测仪: SAT-64s
Scintillation Crystal Performance Tester
中国科学院院刊, 2023, 38(Z1): 21-21
Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2023, 38(Z1): 21-21

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闪烁体性能检测仪: SAT-64s. 中国科学院院刊, 2023, 38(Z1): 21-21
Scintillation Crystal Performance Tester. Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2023, 38(Z1): 21-21
闪烁体性能检测仪: SAT-64s
Scintillation Crystal Performance Tester

主要技术与性能指标

●系统线性度优于3%  ●同产品多次测量误差小于3%

●系统稳定性优于3%  ●同时测量晶体数不少于64根

主要应用

用于多种单根或阵列型闪烁晶体能量分辨率、时间分辨、发光衰减时间、光输出测试及封装等的性能研究，为闪烁晶体性能参数评价及制备提供技术支持

代表性应用成果