分子束外延系统: FW-IV-60
Molecular Beam Epitaxy System

主要技术与性能指标

●极限真空优于10−9 Pa   ●束源炉最高温度1 300℃  ●双驱控温,控温精度±1℃

●GaAs外延材料:厚度不均匀性≤±2%;掺杂不均匀性≤±3%  ●表面缺陷(1 µm厚GaAs):≤ 50个/cm2

●电学性能(厚度2 µm GaAs):背景载流子浓度n≤ 3× 1014 cm−3,迁移率μ300K≥ 6 000 cm2/V.s,μ77K≥ 60 000 cm2/V.s

主要应用

用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的研究。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料科研项目

代表性应用成果

●该系统主要用于Ⅲ—Ⅴ族、Ⅱ—Ⅵ族、Ⅳ族、化合物半导体超晶格材料、量子阱材料、高电子迁移率晶体管材料及异质结双极晶体管等材料的外延生长

●分子束外延(MBE)技术实际上是一种原子级的加工技术,特别适于生长半导体超晶格、量子阱等新型半导体结构。MBE技术可外延生长GaAs、InP基微波器件(用于雷达、制导核心器件);也可生长多种红外探测器件,如碲镉汞红外探测器、量子阱红外探测器、锑化物红外探测器件等。另外,在低维物理研究、自旋电子学、量子器件等研究领域,各种微纳结构大都是依赖于MBE技术来制备的