钨灯丝扫描电子显微镜: SEM 2000/3200/3300
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope

主要技术与性能指标

●分辨率:二次电子像2.5 nm@20 kV;4 nm@3 kV;5 nm@1 kV

●电子枪:预对中型发叉式钨灯丝电子枪  ●加速电压范围:0.2—30 kV  ●放大倍数范围:1—300 000×

●具有多功能接口,可安装EDS/EBSD/CL/WDS等分析附件  ●样品台:五轴自动样品

主要应用

可广泛应用在锂电材料、纤维材料、电子元器件、建筑材料、环保材料、生物医疗、金属和冶金等各领域

代表性应用成果

相关科研领域