http://dx.doi.org/10.16418/j.issn.1000-3045.2023Z104036
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深紫外激光光发射电子显微镜: DUV-DPL PEEM
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope
中国科学院院刊, 2023, 38(Z1): 36-36
Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2023, 38(Z1): 36-36

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深紫外激光光发射电子显微镜: DUV-DPL PEEM. 中国科学院院刊, 2023, 38(Z1): 36-36
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope. Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2023, 38(Z1): 36-36
深紫外激光光发射电子显微镜: DUV-DPL PEEM
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope

主要技术与性能指标

●PEEM分辨率：≤ 10 nm  ●LEEM分辨率：≤ 5 nm  ●能量分辨率：≤ 0.2 eV

主要应用

表面分析科学中的表面磁学、表面催化、薄膜生长等

代表性应用成果

磁学研究、表面催化、薄膜生长