相对磁场方向测量磁力显微镜: Prb3D-MFMrotSs1C
Rotable Magnetic Force Microscope Operated in High Field Magnet

主要技术与性能指标

●分辨率:50 nm  ●温度:5—300 K(由适配磁体提供)

●采用压电旋转马达驱动  ●角度精度:≥0.01°

●适用孔径50 mm以上磁体,样品在磁场中进行0°—90°转角度测量

主要应用

功能材料、纳米科技、磁学、芯片、微纳器件,特别适用于磁各向异性材料的磁场调控研究

代表性应用成果

中国科学技术大学团队实现了二维磁性材料CrI3块体各向异性本征磁畴结构的直接观测,揭示了其磁性行为与结构相变之间的复杂关系,为未来在CrI3中操纵自旋密度波提供了实验参考