高速扫描电子显微镜:HEM6000
High Speed Scanning Electron Microscope
● 电子枪类型:肖特基场发射电子枪 ● 放大倍率:66—1 000 000
● 分辨率:1.3 nm@3 kV,SE;1.9 nm@ kV,SE;1.5 nm@3 kV,BSE;2.0 nm@1 kV,BSE;0.9nm@30kV,STEM
● 加速电压:100 V—6 kV(减速模式);6—30 kV(非减速模式)
● 样品台:步进电机驱动 3 轴样品台(可选配压电驱动样品台) ● 最短驻点时间:10 ns/pixel
主要应用半导体工业、生命科学、材料科学、地质科学
代表性应用成果航空高温合金样品,要求观察蠕变孔洞和碳化物,并由算法自动识别特征分布、统计含量;无人值守连续拍摄 近 7 h,共计拍摄 2 500 张图,成功拼接成近 9 mm2 的大图;鼠脑切片样品,用低角度 BSE 探测器,配合样品 台减速技术,获得出色的衬度和分辨率,在 320 ns 驻点时间可获得近 SNR=80 dB 的信噪比,囊泡、细胞器内 部结构可识别
![]() |