http://dx.doi.org/10.16418/j.issn.1000-3045.2024Z104035
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深紫外激光光发射电子显微镜: DUV-DPL PEEM
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope
中国科学院院刊, 2024, 39(Z1): 38-38
Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2024, 39(Z1): 38-38

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深紫外激光光发射电子显微镜: DUV-DPL PEEM. 中国科学院院刊, 2024, 39(Z1): 38-38
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope. Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2024, 39(Z1): 38-38
深紫外激光光发射电子显微镜: DUV-DPL PEEM
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope

主要技术与性能指标

● PEEM 分辨率：≤10 nm   ● LEEM 分辨率：≤5 nm   ● 能量分辨率：≤0.2 eV

主要应用

表面分析科学中的表面磁学、表面催化、薄膜生长等

代表性应用成果

磁学研究、表面催化、薄膜生长