分子束外延系统
Molecular Beam Epitaxy System

主要技术与性能指标

● 外延结构 AlGaAs/GaAs SL:4""GaAs,1 μm/h 的生长速率,GaAs 衬底上薄膜厚度非均匀性 ≤±2.0%(不包 括边缘 3 mm)

● 外延结构 GaAs-Si :4""GaAs,1 μm/h 的生长速率,GaAs 衬底上薄膜掺杂浓度非均匀性 ≤±3.0%(不包括 边缘 3 mm)

● 外延结构 AlGaAs:4""GaAs,1 μm/h 的生长速率,AlGaAs 中的 Al 含量(30%)的非均匀性为 ≤±2.0%

主要应用

用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等 新型薄膜材料的研究,可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料科 研项目