表1(Table 1)
引用本文
场发射扫描电子显微镜: SEM 4000Pro/5000Pro/5000X. 中国科学院院刊, 2025, 40(Z1): 34-34 
Field Emission Scanning Electron Microscope. Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2025, 40(Z1): 34-34
场发射扫描电子显微镜: SEM 4000Pro/5000Pro/5000X
Field Emission Scanning Electron Microscope
SEM 4000 Pro ●分辨率：1.0 nm@30 kV，SE；0.9 nm@30 kV，STEM
SEM 5000 Pro ●分辨率：0.8 nm@15 kV，SE；1.0 nm@1 kV，SE；0.8 nm@30 kV，STEM
SEM 5000 X ●分辨率：0.6 nm@15 kV，SE；1.0 nm@1 kV，SE；0.8 nm@30 kV，STEM
主要应用锂电材料、纤维材料、电子元器件、建筑材料、环保材料、生物医疗、金属和冶金等领域
代表性应用成果纳米材料观察、材料断口分析、金属材料失效分析、考古学和刑事侦查、生物研究应用、微电子工业质量监控、地矿学研究
| 主要用户单位 | 华为技术有限公司、宁德时代新能源科技股份有限公司、合肥国轩新材料科技有限公司、北京大学、浙江大学、北京航空航天大学、北京理工大学、南开大学、哈尔滨工业大学、电子科技大学、中国科学院生物物理研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院沈阳应用生态研究所、中国农业科学院作物科学研究所、国家卫生健康委职业安全卫生研究中心、武汉市疾病预防控制中心、辽宁材料实验室 |
| 研制单位 | 中国科学技术大学 |
| 联系方式 | 贺老师 0551-65310628 hcf@ciqtek.com |