扫描NV探针显微镜: SNVM
Scanning Nitrogen-vacancy Probe Microscope

主要技术与性能指标

●磁成像分辨率:10—30 nm  ●磁测量灵敏度:≤2 μT/Hz1/2  ●共聚焦扫描范围:≥90 μm× 90 μm

●AFM扫描范围:≥30 μm× 30 μm   ●兼容探针类型:Akiyama探针和金刚石探针

●偏置磁场范围:50—500 Gauss   ●低温选件:低温环境下支持湿式杜瓦制冷或干式制冷机制冷

●磁场:可选配0—9 T超导磁体

主要应用

多铁性材料、超导材料、二维磁性材料、生物细胞等磁成像领域

代表性应用成果

细胞原位成像、拓扑磁结构表征、超导磁成像、固态物质磁成像等

主要用户单位 西湖大学、工业和信息化部电子第五研究所
研制单位 中国科学技术大学
联系方式 贺老师  0551-65310628  hcf@ciqtek.com