表1(Table 1)
引用本文
深紫外激光光发射电子显微镜: DUV-DPL PEEM. 中国科学院院刊, 2025, 40(Z1): 38-38 
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope(DUV-PEEM). Bulletin of Chinese Academy of Sciences, 2025, 40(Z1): 38-38
深紫外激光光发射电子显微镜: DUV-DPL PEEM
Deep Ultraviolet Photoemission Electron Microscope(DUV-PEEM)
●PEEM分辨率≤10 nm ●LEEM分辨率≤5 nm能量分辨率≤0.2 eV
主要应用表面分析科学中的表面磁学、表面催化、薄膜生长等
代表性应用成果关仪器装置应用在石墨烯、高温超导、拓扑绝缘体、宽禁带半导体和催化剂等研究中，涉及纳米与界面催化研究、热扩散阴极电子发射研究、金属表界面化学研究、表面微作用力研究等，获得了重要科研结果
| 主要用户单位 | 中国科学院空天信息创新研究院、中国科学院物理研究所、中国科学技术大学、西湖大学 |
| 研制单位 | 北京中科科仪股份有限公司 |
| 联系方式 | 王老师 13501270910 wanghonghai@kyky.com.cn |